EMI測(cè)試系統(tǒng)用于評(píng)估電子電氣設(shè)備在電磁環(huán)境中產(chǎn)生的干擾水平，是產(chǎn)品合規(guī)認(rèn)證和研發(fā)驗(yàn)證的重要工具。正確使用EMI測(cè)試系統(tǒng)不僅關(guān)系到測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，也直接影響產(chǎn)品能否順利通過(guò)電磁兼容性（EMC）相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。因此，在操作過(guò)程中需嚴(yán)格遵循規(guī)范流程，確保測(cè)試結(jié)果具有可重復(fù)性。
1、測(cè)試環(huán)境準(zhǔn)備：EMI測(cè)試應(yīng)在符合標(biāo)準(zhǔn)的屏蔽室或電波暗室內(nèi)進(jìn)行，以避免外部電磁信號(hào)干擾。測(cè)試前需確認(rèn)場(chǎng)地接地良好，屏蔽效能達(dá)標(biāo)，并清除周?chē)赡芊瓷浠蜉椛涞慕饘傥矬w。
2、設(shè)備預(yù)熱與校準(zhǔn)：開(kāi)機(jī)后應(yīng)讓接收機(jī)、天線、LISN（線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)）等關(guān)鍵部件充分預(yù)熱，通常不少于30分鐘。定期使用標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)，確保幅度和頻率響應(yīng)處于允許誤差范圍內(nèi)。
3、被測(cè)物布置規(guī)范：按照CISPR、FCC或GB等對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)擺放被測(cè)設(shè)備（EUT），包括電纜走向、高度、距離參考地平面的位置等。所有工作狀態(tài)應(yīng)模擬實(shí)際使用場(chǎng)景，并覆蓋最大發(fā)射模式。
4、測(cè)試頻段與檢波方式選擇：根據(jù)產(chǎn)品類(lèi)別確定傳導(dǎo)騷擾（如150kHz–30MHz）和輻射騷擾（如30MHz–1GHz或更高）的測(cè)試范圍。正確設(shè)置準(zhǔn)峰值（QP）、平均值（AV）等檢波器，以滿足不同標(biāo)準(zhǔn)的限值判定要求。
5、背景噪聲測(cè)量：在正式測(cè)試前，需先關(guān)閉被測(cè)設(shè)備，記錄環(huán)境本底噪聲。只有當(dāng)本底噪聲至少低于限值6dB時(shí)，測(cè)試結(jié)果才有效，否則需排查干擾源或調(diào)整測(cè)試時(shí)間。
6、數(shù)據(jù)記錄與復(fù)測(cè)驗(yàn)證：完整保存測(cè)試配置、頻譜圖、超標(biāo)點(diǎn)及整改前后對(duì)比數(shù)據(jù)。若初次測(cè)試未通過(guò)，應(yīng)分析主要干擾頻點(diǎn)來(lái)源，采取濾波、屏蔽或布局優(yōu)化措施后重新驗(yàn)證。
主營(yíng)產(chǎn)品：
TEM小室，GTEM小室，測(cè)試儀器儀表，屏蔽室，電波暗室，電磁兼容
更新時(shí)間：2026-05-25 
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