GTEM小室是一種緊湊型電磁兼容測試設備，廣泛應用于輻射發(fā)射預測試、輻射抗擾度試驗及無線設備OTA性能評估，尤其適用于研發(fā)階段的快速篩查。相比傳統(tǒng)電波暗室，GTEM小室以結(jié)構(gòu)簡單、成本低、占地小、頻段寬等優(yōu)勢，成為實驗室和產(chǎn)線的EMC工具。
GTEM小室精準性能依賴于多個精密部件的協(xié)同設計，每一模塊均體現(xiàn)場均勻、屏蔽強、接口穩(wěn)、操作便的現(xiàn)代EMC測試理念。
一、錐形漸變同軸結(jié)構(gòu)
中心芯棒（主輻射極）與接地錐壁構(gòu)成非封閉式TEM波導，通過幾何漸變實現(xiàn)阻抗匹配（通常50Ω），確保在測試區(qū)內(nèi)（通常為小室1/3–1/2高度區(qū)域）形成高度均勻的電磁場；
場強分布誤差≤±3dB，滿足IEC61000-4-20標準對測試體積的要求。
二、高性能吸波材料內(nèi)襯
四壁及頂部貼覆高頻碳基或鐵氧體復合吸波材料（厚度20–50mm），有效吸收高次模與反射波，提升場純度；
頻率覆蓋10MHz–18GHz，駐波比（VSWR）＜1.5:1，保障測試可重復性。
三、屏蔽外殼與密封設計
整體采用雙層鍍鋅鋼板或鋁合金焊接結(jié)構(gòu)，縫隙處加裝導電襯墊（如鈹銅簧片），屏蔽效能≥80dB（1GHz）；
前部設雙刀雙擲（DPDT）屏蔽門，帶自鎖機構(gòu)，確保關門后電連續(xù)性。
四、標準化接口與監(jiān)測系統(tǒng)
N型或SMA射頻輸入端口（50Ω），支持信號源注入（抗擾度）或接收（發(fā)射測試）；
內(nèi)置場強探頭安裝位（可選），用于實時監(jiān)測E/H場強度；
底部預留光纖/電源濾波器接口，支持被測設備（EUT）供電與數(shù)據(jù)傳輸，同時抑制傳導干擾。
五、測試區(qū)域與支架系統(tǒng)
內(nèi)部設非金屬（如PEEK或FR4）樣品臺，高度可調(diào)，避免金屬支撐引入場畸變；
兼容PCB板、小型整機（如手機、IoT模塊）及線束，測試尺寸通常≤30×30×30cm。
主營產(chǎn)品：
TEM小室，GTEM小室，測試儀器儀表，屏蔽室，電波暗室，電磁兼容
更新時間：2026-03-02 
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